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Microscope pour wafer - SAM 300 AUTO WAFER - PVA TePla Analytical Systems GmbH - d'inspection / automatisé / acoustique à balayage
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Microscope acoustique à balayage - SAM 300 TWIN - PVA TePla Analytical Systems GmbH - pour analyse / pour la recherche
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Scan modes of SAM (image courtesy of PVA TePla Analytical Systems) [29]. | Download Scientific Diagram
![Defect detection and sample interaction (image courtesy of PVA TePla... | Download Scientific Diagram Defect detection and sample interaction (image courtesy of PVA TePla... | Download Scientific Diagram](https://www.researchgate.net/publication/355290282/figure/fig6/AS:1118376613150726@1643653171382/Defect-detection-and-sample-interaction-image-courtesy-of-PVA-TePla-Analytical-Systems.jpg)